参加上海耀谷咨询公司培训，免费拿精彩世博会门票或纪念品！
活动时间：2010年5月1日至2010年10月31日
活动内容：
1、 只要报名参加上海耀谷公司举办的任一培训课程，每位报名者就有机会获得世博会门票或丰富的世博会纪念品；
2、 所有章节考试都满分者，耀谷公司奖励世博会门票一张或世博会纪念品一款，即一次报名参加培训，享受两次获奖机会；
3、 耀谷公司举办每期公开培训班均设立幸运奖1-5名，抽中者可免费获得世博会门票一张或世博会纪念品一款；
4、 提前一个月注册者亦可免费获赠世博会门票一张或世博会纪念品一款；
5、 成功推荐一位学员者可免费获赠世博会门票一张或世博会纪念品一款；
优质的培训，限时的抢礼，大家赶快行动起来吧！
SPC培训通知
二天课程 以分析过程变差着手，以基本的统计概念为先导，介绍统计过程控制的原理和实践;使学员认识为何SPC是持续改进的工具和SPC在过程控制中的作用。对于*版的基本控制图和第二版中新增的各种特殊控制图，以实际实践讲解其应用环境，应用步骤及其原理。讲解如何使用统计软件（Excel，Minitab等）进行SPC分析，以使学员尽快将SPC运用到日常工作实践中。
培训特色 我们注重理论的同时，更是通过大量的实例讲解和练习，使学员理解各种控制图的应用；关注如何来阅读SPC图上的信息并作出反应。
培训教材：
每位参加人员将获得一套培训手册，小组练习及案例精选。
主办单位：上海耀谷管理咨询有限公司
适合对象：项目经理，设计、质量，工艺、设备和制造工程师，质量检验员，质量体系、供应商管理人员。直接负责准备PPAP的人员或APQP小组成员。
培训时间：2天
讲课时间：9:00 — 17:30 午餐时间：12:00 — 13:00
内容简介：
*章基本统计概念
总体和样本
数据分析方法、直方图
正态分布及性质
常用统计量：均值、中位数、极差、标准差、移动极差
第二章持续改进和统计过程控制
预防和探测
过程控制系统
变差的普通原因和特殊原因
局部措施和对系统采取措施（过度调整和戴明漏斗试验）
过程控制和过程能力
过程改进循环和过程控制
控制图：过程控制和改进的工具
控制图的有效使用和益处
第三章 控制图运用步骤
控制图运用步骤
定义过程
确定作图的特性
选择控制图
测量系统分析
决定抽样方式
第四章 计量型控制图
平均值极差控制图
平均值标准差控制图
中位数极差控制图
单值移动极差控制图
第二版新增的复杂SPC控制图
预控图
标准化控制图
计数型标准化控制图
检测小位移的控制图
CUSUM控制图
EWMA控制图
第五章 认识计量型数据的过程能力和过程性能
过程术语的定义
条件描述
建议使用的过程测量
过程能力CPK实例
双向公差的能力分析
单向公差的能力分析
过程性能指数PPK，设备能力指数CMK比较
第六章 计数型控制图
P控制图
Np控制图
C图
U图
附录
附录A 关于抽样的一些解释
附录B 关于特殊原因的一些评述
附录C Cpm和其他指数的关系
附录D 控制图的常数
附录E 控制图控制限公式表
附录F 标准正态表
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联系人：
Jason:
